荧光X线膜厚计
采用中文视窗操作测量系统解析度0.001μm小测量面积0.1mmφ荧光X线膜厚计可测量合金层之厚度和组成比例荧光X线膜厚计可测量两层以上镀层之个别厚度籍由光谱分析可判定被测物之元素适用对象:IC导线架、封装业、PCB业、精密零件业、电镀业、电子业
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第15年