FiScherSCOp® X—RAY System XDL® —B及XDLM® —C4是采用技术标 准ASTM及B568，DIN60987， ISO 3497的X一射线荧光分析法来进行测 量， 下但可以测量金属层厚度及金属之 间的比重， 还可以进行金属物料分析。 FiScherSCOp® X—RAY Systenl XDL® 一B及 XDLM@—C4是采用全新数学计算方法来进行镀层厚度 的计算， 在加强的软件功能之下， 简化了测量比较复 杂镀层的程序， 甚至可以在不需要标准片之下， 一样 可以测量。 它还采用*的焦距距离计算办法（DCM）， 操作 员现在可以随时改变焦距测量， 对一些形状复杂的工 件尤其方便。 FiSCherSCOp® X—RAY System XDL® 一B及XDLM® —C4功能包括： 特大及槽口式的测量箱、 向下投射式X—射线， 方便对位测量、软件在视窗98下操作、 可在同一屏幕清楚显示测量读数及工件的位置。
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第15年
