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荧光X线光谱仪特点：
◆ 快速：每次测试时间仅需60－200秒，快速方便；
◆ 无损：检测前无须对样品处理；
◆ 准确：检出限可达1ppm（百万分之一）；
◆ 直观：软件操作界面非常简单、直观、易懂。

荧光X线光谱仪特性：
◆ 测量RoHS、电镀镀层、全元素分析、一机多用；
◆ 半导体硅片电制冷系统，摈弃液氮制冷；
◆ 特别开发的RoHS测量软件，操作界面十分友好；
◆ 可选的准直器系列，分别针对不同大小的样品；
◆ 超大样品腔，几乎对样品尺寸无限制；
◆ 精准的移动平台，更精确方便地调节样品位置；
◆ 内置高清晰摄像头，方便用户随时监测样品；
◆ *的光路增强系统，方便用户更好地观察样品；
荧光X线光谱仪检测分析谱图式样： （点击放大查看）

荧光X线光谱仪综合性能指标:

一．基本性能:
1.元素分析范围从钾（K）到铀（U）；
2.元素含量分析范围为1 PPm到99.99%；
3.测量时间：60-200秒；
4.元素分析检出限达1PPm；
5.多次测量重复性可达0.1％；
6.长期工作稳定性为0.1％；
7.能量分辨率为165EV；
8.温度适应范围为15℃至26℃；
9.电源：交流220V±5V；（建议配置交流净化稳压电源。）
10.相互独立的基体效应校正模型；
11.多变量非线性回收程序；
12.任意多个可选择的分析和识别模型；
13.一次可同时分析24个元素。

二．镀层厚度测试:
1.无损、精确、快速测量各种电镀层的厚度；
2.膜厚分析精度:0.01um—0.05um；
3.极小的测定面积,可达0.1mm＊0.1mm；
4.中间镀膜及素材的成份对测量值不产生影响；
5.同时且互不干扰的测量上层及中间镀膜；
6.电镀层可以是镀金、镀银、镀镍、镀锡、镀锌等；
7.可测量二元合金、三元合金等的镀膜厚及成份；
8.可分析10层以上的镀层；
9.简捷、明了的测厚分析软件界面；
10.可分析电镀溶液中的金属离子浓度。

三．欧盟ROHS指令测试:
1.无损、精确、快速测量各种塑料、电子元器件、电器、金属、溶液等物件里面的有毒有害元素；
2.对镉（Cd）、铅（Pb）、铬（Cr）、溴（Br）、汞（Hg）的检出限达1PPm；
3.简捷、明了、便利的软件操作界面。

四．荧光X线光谱仪元素含量分析:
1.无损、精确、快速测量各种样品中各元素的含量；
2.一次可同时分析样品中的24个元素；
3.应用在化学工业、钢铁、水泥、陶瓷、电子、环保、食品、造纸、石油、煤炭、有色金属等领域的研发和品质管理（生产控制）；
4.样品的状态可以是固体、液体、粉体。